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布魯克表面輪廓儀Dektak X 探針式臺(tái)階儀

簡(jiǎn)要描述:德國(guó)布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)進行培訓,可以提供更高的重復(fù)性和分辨率深入,測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5Å機構。
布魯克表面輪廓儀Dektak X 探針式臺(tái)階儀

  • 產(chǎn)品型號(hào):
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2022-03-29
  • 訪(fǎng)  問(wèn)  量:1240
詳細(xì)介紹
品牌其他品牌價(jià)格區(qū)間5萬(wàn)-10萬(wàn)
產(chǎn)品種類(lèi)接觸式輪廓儀/粗糙度儀產(chǎn)地類(lèi)別進(jìn)口
應(yīng)用領(lǐng)域綜合

布魯克表面輪廓儀Dektak X 探針式臺(tái)階儀

德國(guó)布魯克 DektakXT 臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)是一項(xiàng)創(chuàng)新性的設(shè)計(jì)帶動擴大,可以提供更高的重復(fù)性和分辨率,測(cè)量重復(fù)性可以達(dá)到5?深刻認識。臺(tái)階儀這項(xiàng)性能的提高達(dá)到了過(guò)去四十年Dektak技術(shù)創(chuàng)新核心技術,更加鞏固了其行業(yè)地位。不論應(yīng)用于研發(fā)還是產(chǎn)品測(cè)量主動性,通過(guò)在研究工作中的廣泛使用創造性,DektakXT能夠做到功能更強(qiáng)大,操作更簡(jiǎn)易道路,檢測(cè)過(guò)程和數(shù)據(jù)采集更完善規模設備。

第十代DektakXT臺(tái)階儀(探針式表面輪廓儀)的技術(shù)突破,使納米尺度的表面輪廓測(cè)量成為可能指導,從而可以廣泛的應(yīng)用于微電子器件競爭力,半導(dǎo)體,電池進一步完善,高亮度發(fā)光二極管的研發(fā)以及材料科學(xué)領(lǐng)域集聚。


臺(tái)階儀Dektak XT能實(shí)現(xiàn):


·  突出的性能,臺(tái)階高度重現(xiàn)性低于4埃
·  Single-arch設(shè)計(jì)提供具突破性的掃描穩(wěn)定性
·  *“智能電子器件"設(shè)立了新低噪音基準(zhǔn)
·  新硬件配置使數(shù)據(jù)采集時(shí)間縮短40%
·  64-bit調整推進,Vision64同步數(shù)據(jù)處理軟件狀況,使數(shù)據(jù)分析速度提高了10倍
·  頻率,操作簡(jiǎn)易
·  直觀的Vision64用戶(hù)界面機製,操作簡(jiǎn)易
·  針尖自動(dòng)校準(zhǔn)系統(tǒng)
·  布魯克(Bruker)以實(shí)惠的配置實(shí)現(xiàn)高的性能
·  單傳感器設(shè)計(jì)全過程,提供單一平面上低作用和寬掃描范圍

 

40多年不斷創(chuàng)新

 

建立在40多年的探針輪廓技術(shù)創(chuàng)新的知識(shí)和經(jīng)驗(yàn)之上薄膜測(cè)試儀,在基于微處理器的輪廓儀探討,和300mm自動(dòng)輪廓儀DektakXT繼承了以往的不負眾望。新的DektakXT是首部single-arch設(shè)計(jì)的探針輪廓儀,首部?jī)?nèi)置真彩高清光學(xué)攝像機(jī)調解製度,及安裝64-bit并行處理架構(gòu)已獲得測(cè)量及操作效率的探針輪廓儀
 

有超過(guò)一萬(wàn)臺(tái)設(shè)備密度增加,品牌Dektak以質(zhì)量、可靠性及著稱(chēng)創新內容。當(dāng)需要臺(tái)階高度機遇與挑戰、表面粗糙度、可靠測(cè)量時(shí)善於監督,人們就會(huì)借助Dektak集成技術。引進(jìn)DektakXT,Bruker能讓您進(jìn)一步獲得可靠及表面測(cè)量

 

提高數(shù)據(jù)采集和分析速度

 

利用直接驅(qū)動(dòng)掃描平臺(tái)更合理,Dektak XT減少了掃描間的時(shí)間適應能力,而沒(méi)有影響分辨率和背景噪聲。這一改進(jìn)大大提高了大范圍掃描3D形貌或者對(duì)于表面應(yīng)力長(zhǎng)程掃描(就探針輪廓儀而言實際需求,通常是耗時(shí)的)的掃描速度解決方案。在保證行業(yè)的質(zhì)量和重現(xiàn)性前提下優勢,DektakXT可以將數(shù)據(jù)采集處理的速度提高40%。另外增產,DektakXT采用Bruker64-bit數(shù)據(jù)采集分析同步操作軟件Vision64便利性,它可以提高大范圍3D形貌圖的高數(shù)據(jù)量處理速度,并且可以加快濾波器的工作速度和多模式掃描是的數(shù)據(jù)分析行動力。Vision64還具有行業(yè)內(nèi)有效的直觀用戶(hù)界面提供有力支撐,簡(jiǎn)化了實(shí)驗(yàn)操作設(shè)置,自動(dòng)完成多掃描模式保供,讓重復(fù)和常規(guī)的實(shí)驗(yàn)操作變得更快速簡(jiǎn)潔自行開發。



布魯克表面輪廓儀Dektak X 探針式臺(tái)階儀

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