天瑞儀器 Thick 800A X射線熒光鍍層測(cè)厚儀

儀器外觀簡(jiǎn)潔大方，通過自動(dòng)化的X軸Y軸Z軸的三維移動(dòng)追求卓越，雙激光定位和保護(hù)系統(tǒng)逐漸完善，實(shí)現(xiàn)對(duì)平面、凹凸合理需求、拐角是目前主流、弧面等各種簡(jiǎn)單及復(fù)雜形態(tài)的樣品進(jìn)行快速對(duì)焦精準(zhǔn)分析。

性能優(yōu)勢(shì)

gao端配置——采用高分辨率SDD探測(cè)器;分辨率高達(dá)140eV
上照式設(shè)計(jì)——實(shí)現(xiàn)微小不規(guī)則表面樣品如弧形高質量，拱上照式設(shè)計(jì)形充分發揮，凹槽，螺紋等異形的快管理、準(zhǔn)設計、穩(wěn)高效檢測(cè)
高精度自動(dòng)化的X軸Y軸Z軸的聯(lián)動(dòng)裝置實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的精準(zhǔn)對(duì)焦快速檢測(cè)
采用高度自動(dòng)定位激光，可快速精準(zhǔn)定位測(cè)試高度改進措施，以滿足不同尺寸的鍍層測(cè)試
多種準(zhǔn)直孔可供選擇——準(zhǔn)直孔：0.05*0.3mm就此掀開；Ф0.1mm；Ф0.2mm今年；Ф0.3mm穩步前行；Ф0.5mm
定位精準(zhǔn)——樣品可快速精準(zhǔn)定位
操作簡(jiǎn)易——全自動(dòng)智能集成設(shè)計(jì)，讓檢測(cè)輕松完成

技術(shù)優(yōu)勢(shì)

儀器配置高

智能型Thick 800A采用的是業(yè)內(nèi)zuigao端的SDD半導(dǎo)體電制冷探測(cè)器動手能力，分辨率可達(dá)140eV,可以很好的區(qū)分相鄰元素譜峰逐步改善。
以Au/Ni/Cu鍍層為例，正比計(jì)數(shù)盒儀器譜圖如圖一提升，從譜圖可以看出銅鎳兩元素的譜峰重疊嚴(yán)重大大提高，金的峰形與樣品本底重疊；不利于元素準(zhǔn)確分析應用前景。
圖二是半導(dǎo)體SDD儀器測(cè)試Au/Ni/Cu的光譜圖有很大提升空間，從譜圖可以看出銅鎳金這三個(gè)元素的譜峰得到很明顯的區(qū)分，有利于元素精準(zhǔn)分析激發創作。

聚焦光路設(shè)計(jì)

智能型Thick 800A采用du特的光路交換裝置前景，讓X射線與攝像光處于同一垂直線，達(dá)到激光點(diǎn)與測(cè)試點(diǎn)一體增幅最大，且X光高度聚焦共享應用；配合FP軟件達(dá)到對(duì)焦變焦功能，實(shí)現(xiàn)微小不規(guī)則樣品的精準(zhǔn)測(cè)試標準；高集成的光路交換裝置與接收器的角度可縮小一倍示範推廣，有效的減少弧度傾斜放樣帶來的誤差堅持好。

特制濾波片實(shí)現(xiàn)低背景測(cè)量

通過特制濾波片可以有效降低X熒光的吸收與增強(qiáng)作用，減小背景散射大幅增加，提高對(duì)超薄金屬元素的檢出限（最di可以達(dá)到0.005um）特性，實(shí)現(xiàn)超薄金屬鍍層厚度分析。

高精度定位技術(shù)

高精度移動(dòng)平臺(tái)可精確定位測(cè)試點(diǎn)等特點，平臺(tái)電機(jī)重復(fù)定位精度小于0.005mm建言直達；移動(dòng)平臺(tái)可通過測(cè)試軟件可視化操作：鼠標(biāo)可控制移動(dòng)平臺(tái)，鼠標(biāo)點(diǎn)擊的位置就是被測(cè)點(diǎn)將進一步。

FP算法

智能型Thick 800A分析核心技術(shù)----FP算法
元素厚度精準(zhǔn)檢測(cè)
微區(qū)分析充分發揮、薄膜分析、高級(jí)次譜線分析

更加專業(yè)和人性化的測(cè)試軟件

①主界面增加曲線快速切換功能成就；
②鼠標(biāo)移動(dòng)快捷鍵更改不需要ctrl重要方式，鼠標(biāo)點(diǎn)哪，樣品平臺(tái)就會(huì)移動(dòng)到哪里系統，更加方便客戶測(cè)試非常重要；
③鍍層厚度自動(dòng)判定，客戶可以根據(jù)需要自定義判定標(biāo)準(zhǔn)提升；
④工作曲線界面加入備注名稱可編輯高品質，并可以顯示在主界面曲線界面，對(duì)英文元素做備注說明支撐能力，方便客戶區(qū)分資源優勢，界面對(duì)客戶更加友好
⑤自動(dòng)生成測(cè)試報(bào)告，測(cè)試歷史數(shù)據(jù)查看特征更加明顯、檢索等
⑥行業(yè)解決方案估算，如精密部件釹鐵硼鍍鎳鍍銅再鍍鎳，電泳漆測(cè)厚度的可能性，鋁塑膜測(cè)試鍍鋁的厚度等

天瑞儀器 Thick 800A X射線熒光鍍層測(cè)厚儀